AVX钽电容代理商告诉您片状钽电容的失效特点

早期的钽电容失效主要是两个因素造成的，最明显的是由于极性接反引起的击穿失效，这种失效多在研发阶段，由于设计和测试不当引起的，所以禁止使用万用表电阻档对片状钽电容电路或其本身进行不分极性的电阻测试。另外一种较为隐避的失效通常在实际工作时出现，其原因是由于焊接温度过高，焊接持续时间过长，导致钽电容内钽丝与
阳极引线熔焊的焊锡受热流}}{，形成多余物，造成短路失效。随着钽电容的贴片化和．1 艺水平的提高，这种失效已经可以控制并消除，同时更为深层次的失效原 也开始暴露。在实际牛产和使用中我们发现，片状钽电容失效呈现以卜特点：(1)容值较大的片状钽电容比容值较小的片状钽电容更容易失效；(2)片状钽电容失效多发生在固定的位置，或固定的电路中，譬如电源滤波电路中；(3)电源滤波电路中第一个钽电容最易失效；(4)在ICT、 测试时的上电瞬间片状钽电容最容易失效；【5)老化过程中钽电容容易失效；
(6)散热较差的区域片状钽电容更容易失效；(7)浪涌情况_卜片状钽电容更容易失效。总结上述现象，我们发现几个■ 要导致片状钽电容失效的因素，容值、温度和浪涌。卜面，我们将就从这3个方面分析这些因素究竟是如何导致片状钽电容失效的。