TDK电容的寿命和故障率取决于温度和电压

文章出处:    作者:    浏览次数:27    发表时间:2015-11-23 10:32:10
TDK电容的寿命和故障率取决于温度和电压
老化的电容器(2类),不得在精密时间常数电路中使用。在时间常数电路,评估时应该做得更好。
据估计寿命和故障率估计取决于温度和电压。这可以在JEITA描述的公式计算RCR - 2335B附件F(资料)计算,估计寿命和估计故障率(温度加速:第三动力法,电压加速度:10 ° C罗)降低温度和电压,可以减少故障率,但他们将无法得到保障。本规格表中列出的产品是用于在一般使用电子设备(AV设备,电信设备,家用电器,游乐设备,计算机设备,个人装备,办公设备,测量设备,工业机器人下正常操作)和使用条件。
       该产品没有设计或保证,以满足要求下面列出的,其性能和/或质量的应用程序需要更严格的水平的安全性和可靠性,或因故障,故障或故障可能会导致社会,TDK电感和TDK电容人身或财产造成严重损害。请理解,我们不负责在任何使用本产品造成的任何损害或责任对于任何其他用途,超出范围或条件设置的应用程序或低于提出在本规格表。

       航天/航空设备。交通运输设备(汽车,电动火车,船舶等)的医疗设备。发电控制设备。原子能源相关设备。海底设备。交通控制设备。公共信息处理设备。军事装备。电加热设备,燃烧设备。防灾/预防犯罪设备。安全设备。其他不被视为通用的应用。当使用一般用途的应用产品,你请考虑到安全保护电路/设备或提供备份电路等,以确保更高的安全性。

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